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光譜儀的工作原理
光譜儀的工作原理元素的原子在激發(fā)光源的作用下發(fā)射譜線，譜線經(jīng)光柵分光后形成光譜，每種元素都有自己的特征譜線，譜線的強度可以代表試樣中元素的含量，用光電檢測器將譜線的輻射能轉換成電能。檢測輸出的信號，經(jīng)加工處理，在讀出裝置上顯示出來。 然后根據(jù)相應的標準物質制作的分析曲線，得出分析試樣中待測元素的含量。
表面輪廓儀介紹
表面輪廓儀 - 簡介
表面輪廓儀LK-200M型表面輪廓儀采用廣精精密的基于windows版本的測量軟件，具有強大的數(shù)據(jù)處理分析功能。測量時，零件裝夾位置即使任意放置，也能得到滿意的測量結果；即使需要測量長度為220mm的工件，測量軟件也能保證其1μm的采樣步長。
LK-200H型表面輪廓儀采用耐用可靠的16位A/D功能板，其*的分辨率量程比（1/65536），用戶即使需要大量程測量，仍能保持*的測量精度。
LK-200M型表面輪廓儀采用工控計算機處理測量數(shù)據(jù)及儀器控制操作。其高質量、高可靠性及突出的防塵、防振、防油、防靜電能力使廣精精密用戶將使用維護成本降至zui低。
表面輪廓儀 - 原理
表面輪廓儀LK-200M型表面輪廓儀采用直角坐標法，傳感器移動式。直線運動導軌采用高精度氣浮導軌，作為測量基準；電器部分由計算機組成；測量軟件采用基于中文版Windows操作系統(tǒng)平臺的系統(tǒng)測量軟件，完成數(shù)據(jù)采集、處理及測量數(shù)據(jù)管理等工作。
表面輪廓儀 - 功能
角度處理：兩直線夾角、直線與Y軸夾角、直線與X軸夾角
點線處理：兩直線交點、交點到直線距離、交點到交點距離、交點到圓心距離、交點到點距離
圓處理：圓心距離、圓心到直線的距離、交點到圓心的距離、直線到切點的距離
線處理:直線度、凸度、LG凸度、對數(shù)曲線
表面輪廓儀 - 技術規(guī)格
表面輪廓儀測量長度：≤200mm
Y量程：10mm
可測零件直徑：12mm≤內(nèi)圈≤300mm，外圈可較大
工作壓力：0.35～0.43Mpa
氣源壓力：0.45～0.80Mpa
氣源流量：≥0.2m³/min
電源：AC220V±10%50Hz
環(huán)境要求：溫度：10～30℃；相對濕度：＜85%
主機重量：約200Kg
主機尺寸：750mm×480mm×1300mm
表面輪廓儀 - 儀器精度
表面輪廓儀導軌直線性系統(tǒng)精度：≤0.2μm/100mm
示值誤差:0.6%-0.15%±3μm
電感傳感器分辯率/量程：1/65536
X向光柵分辯率:1μm國產(chǎn)
表面輪廓儀 - 電器系統(tǒng)
表面輪廓儀用于處理測量數(shù)據(jù)，儀器控制操作界面的工控機
電感傳感器及16位A/D轉換功能板
前置放大箱
光柵尺
彩色噴墨打印機
表面輪廓儀 - 機械結構
表面輪廓儀高精度氣浮導軌
花崗巖工作臺面
進口滾珠絲桿立柱
硬質合金測量頭（斜測頭、錐形測頭）及寶石球測頭
空氣過濾系統(tǒng)
裝夾機構
人體工學計算機臺
表面輪廓儀 - 測量軟件
表面輪廓儀的測量軟件基于windows操作系統(tǒng)為操作平臺
表面輪廓儀 - 相關產(chǎn)品
LK-120M型表面輪廓儀
LK-120H型表面輪廓儀
LK-200M型表面輪廓儀
LK-200H型表面輪廓儀
雙面軸承振動檢測裝置
雙面軸承振動檢測裝置，包括轉動軸（1）、振動檢測觸頭（2）、機架（12）、軸承上料裝置、軸承翻轉裝置（10、101、102）、軸承搬送裝置（3）、分類排出裝置（20）、中央控制系統(tǒng)和若干傳感器，傳感器、振動檢測觸頭與中央控制系統(tǒng)電連接，中央控制系統(tǒng)分別與軸承上料裝置、軸承翻轉裝置（10、101、102）、軸承搬送裝置（3）、分類排出裝置（20）電連接，其特征在于軸承上料裝置包括2根頂軸（4）、驅動氣缸（7）和2上料通道（9）； 所述的2頂軸（4）設置在機架（12）上的軸套（13）內(nèi)，2頂軸（4）前端分別設有上料壓爪（11），所述的上料通道（9）設置在頂軸（4）前部，上料通道（9）上設置有壓爪孔； 所述的驅動氣缸（7）上設有推動連桿（71），推動連桿（71）與驅動氣缸（7）相連接，推動連桿（71）上方通過傳動裝置（5）與2頂軸（4）相連接，推動連桿（71）下方則固定設有推動軸（8），所述的2上料通道（9）分別設置在推動軸（8）的前端。
磁粉探傷儀的原理和適用范圍
鐵磁性材料被磁化后，其內(nèi)部會產(chǎn)生很強的磁感應強度，磁力線密度增大到幾百倍到幾千倍，如果材料中存在不連續(xù)性，磁力線會發(fā)生畸變，部分磁力線有可能逸出材料表面，從空間穿過，形成漏磁場，漏磁場的局部磁極能夠吸引鐵磁物質。如果在工件上撒上磁粉，漏磁場會吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積(磁痕)，從而顯示缺陷。將工件磁化后，磁力線應均勻平行的穿過工件，若遇到缺陷，磁力線受到阻礙，磁力線會繞過缺陷穿過工件。缺陷在表面或近表面時，部分磁力線可能逸出材料表面，形成漏磁場，如果在工件上撒上磁粉，漏磁場會吸附磁粉，形成與缺陷形狀相近的磁粉堆積(磁痕)，從而顯示缺陷。從原理可知，缺陷形狀與磁力線方向垂直的缺陷容易被發(fā)現(xiàn)。
磁粉探傷只能檢測出鐵磁性材料制成的工件表面和近表面的裂紋及其它缺陷。
γ射線探傷儀的原理
γ射線有很強的穿透性，γ射線探傷就是利用γ射線得穿透性和直線性來探傷的方法。γ射線雖然不會像可見光那樣憑肉眼就能直接察知，但它可使照相底片感光，也可用特殊的接收器來接收。當γ射線穿過（照射）物質時，該物質的密度越大，射線強度減弱得越多，即射線能穿透過該物質的強度就越小。此時，若用照相底片接收，則底片的感光量就??；若用儀器來接收，獲得的信號就弱。因此，用γ射線來照射待探傷的零部件時，若其內(nèi)部有氣孔、夾渣等缺陷，射線穿過有缺陷的路徑比沒有缺陷的路徑所透過的物質密度要小得多，其強度就減弱得少些，即透過的強度就大些，若用底片接收，則感光量就大些，就可以從底片上反映出缺陷垂直于射線方向的平面投影；若用其它接收器也同樣可以用儀表來反映缺陷垂直于射線方向的平面投影和射線的透過量。一般情況下，γ射線探傷是不易發(fā)現(xiàn)裂紋的，或者說，γ射線探傷對裂紋是不敏感的。因此，γ射線探傷對氣孔、夾渣、未焊透等體積型缺陷zui敏感。即γ射線探傷適宜用于體積型缺陷探傷，而不適宜面積型缺陷探傷。
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